ZEISS METROTOM 1工業CT無損檢測隱蔽缺陷內部結構檢測
時間:2023-02-15 來源:思誠資源 編輯:Anduin
zeiss metrotom 1主要應用于:無損檢測,一個掃描多個工件,檢測功能:測量內部和外部結構尺寸,檢查內部缺陷。ZEISS METROTOM 1主要應用于:無損檢測,一次掃描多個工件,檢測功能:測量內部和外部結構尺寸,檢查內部缺陷。




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1、可快速、全面、可重復及精準的三維數據

2、相比三坐標測量儀、光學、超聲檢測更高效
一次掃描 – 全面確定無疑:測量、分析及檢測無法以常規儀器探測的隱藏缺陷及內部結構;
借助X射線,您可無損切剖及洞悉內在;
無需復雜裝夾,節省時間及成本;
通過對所有內外結構進行計算機斷層掃描成像(CT),即便無CAD模型也可重新復制工件。
借助X射線,您可無損切剖及洞悉內在;
無需復雜裝夾,節省時間及成本;
通過對所有內外結構進行計算機斷層掃描成像(CT),即便無CAD模型也可重新復制工件。

3、洞悉您所有的工件尺寸 即便隱藏部分

4、簡易操作對于高效流程至關重要
可面向車間場景及用戶使用
包括:
全合一軟件方案
直觀的用戶界面
自動參數確認
測量空間的數字化設置
簡易操作可覆蓋研發至生產等多樣化作業且確保靈活性
包括:
全合一軟件方案
直觀的用戶界面
自動參數確認
測量空間的數字化設置
簡易操作可覆蓋研發至生產等多樣化作業且確保靈活性

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若涉及版權問題,請及時與我們取得聯系
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